ODG

光設計賞

光設計奨励賞

参照光を用いない位相差像撮像技術の開発

　　　受賞者　：西脇　青児、鳴海　建治、是永　継博

　　　所属　　：パナソニック株式会社

左から審査委員長の辰野氏、受賞者の西脇氏、鳴海氏

授賞理由

　従来複雑な光学系が必要とされた位相差画像の取得を、CIST-GCをイメージセンサ上に張り合わせる簡易な構造で可能にし、光学系の大幅な小型化を実現した本技術の独創性を評価します。今後実用性を高め、製品化されることを期待して、光設計奨励賞を授与します。

概要

　被写体の位相差像の検出は位相差顕微鏡や微分干渉顕微鏡（DIC）等で実現されている。これらの撮像技術は干渉光学系を利用しており、被写体を通過する光を光路の異なる信号光と参照光に分離し、これらの光を干渉させることで位相差像の検出ができている。我々は光の分離を必要とせずに位相差像の検出を可能にする新しい撮像技術（CIST）を考案した。この技術は、微細なチェッカー状の透過領域を持つAl膜パターンに直線状グレーティングカプラを含む誘電体層を積層した構造（CIST-GC)で実現され、構造表面に入射する光が誘電体層内で自己干渉し、透過側で位相差像を形成する。CIST-GCをイメージセンサ―に張り合わせるだけの簡易構造で位相差像の検出が可能になり、干渉光学系の大幅な小型化が実現できる。